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2021.01.18

【特許・意匠ニュース】 米国特許商標庁、審査官とのインタビューに関するブログ記事を公開

 米国特許商標庁 (USPTO) は、審査官とのインタビューに関するイアンク長官のブログ記事を公開しました。ブログ記事では、(1) 審査官インタビューの有効性、および、(2) Full First Action Interview Pilot Programの廃止、について言及されています。以下、ブログ記事の内容を簡単に紹介します。

(1) 審査官インタビューの有効性
 ブログ記事によると、「少なくとも1回審査官とインタビューした場合の認可率は、1回もインタビューしなかった場合の認可率と比べて10%高い」とのことです。

 審査官と審査に関わる意思疎通を図るために、審査官とインタビューを実施することが有効と感じているお客様も多いと思われますが、ブログ記事においても、インタビューが審査促進に寄与することもあり、「インタビューはクレームを認可とするために有効なツールである」と言及されています。

 インタビューの請求がweb上で可能なAutomated Interview Request (AIR) を設けるなど、インタビューの実施を容易にするために様々な施策をUSPTOが行ってきたことも言及されています。ブログ記事によると、「少なくとも1回インタビューを実施した案件の割合は、2010年当初の19.6%から2020年末には38.1%まで増え、過去最高値を更新している」とのことです。

(2) Full First Action Interview Pilot Programの廃止
 2021年1月15日をもってFull First Action Interview Pilot Programが廃止されます。

 このパイロットプログラムは、1回目のオフィスアクションの発行前に、審査官インタビューの機会を出願人に与えるものでした。しかしながら、プログラムの要件が厳しく、12年間の利用率はわずか0.2%ほどに留まっていたため、このたび廃止が決定したようです。

(参考)
USPTOイアンク長官のブログ記事(2020年12月23日付):Interview practice and its importance at the USPTO
https://www.uspto.gov/blog/director/entry/interview-practice-and-its-importance

記事担当:特許第1部 大島凌、川島涼太

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